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<図書>
半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ

出版者 東京 : 丸善プラネット
出版年 2013.8
大きさ viii, 344p : 挿図 ; 30 cm
本文言語 日本語
書誌ID 2004309559
NCID BB13216182 WCLINK

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総合図-A棟4階 学習用図書
549.8||ARA 10301902846

9784863451728
理工学図-西館2F図書
549.8||ARA 12400398140

9784863451728

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一般注記 その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
文献あり
著者標目 荒井, 英輔 <アライ, エイスケ>
塩野, 登(1947-) <シオノ, ノボル>
岩根, 眼藏 <イワネ, ガンゾウ>
件 名 NDLSH:半導体 -- 品質管理  この組合せで検索
BSH:信頼性(工学)
分 類 NDC9:549.8
巻冊次 ISBN:9784863451728 ; PRICE:8000円+税